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全新白光干涉 MP系列控制器

協助您完成各項艱鉅測量，特別是在半導體領域，需要用於定位、間隙尺寸檢查、多層玻璃、特殊薄膜厚度等。
MP控制器是為了解決高速量測非常薄的鍍膜玻璃與晶圓而誕生的。

可同時評估計算多個信號波峰，這樣就可以量測透明物體噢夾層玻璃的厚度，無論位置在何處，控器器都會輸出具最高穩定性的厚度值。
最多可以量測五層的厚度!!

同步距離於多層厚度測量是半導體行業的理想選擇，熱門應用:光罩間隙、多層玻璃薄膜量測

Micro Epsilon Taiwan