高解析度光學測微計

Micro-Epsilon 的光學測微計根據透射光原理工作（ThruBeam 千分尺）。透過發射器產生平行光幕，通過透鏡裝置傳輸到接收器。如果光路中有物體，光束就會中斷。由此產生的陰影被接收光的光學元件檢測到，並作為測量值輸出。大多數光學千分尺用於生產、機器監控和質量保證中的尺寸測量。直徑、間隙、高度和位置等參數的檢測精度都很高。