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optoCONTROL

ThruBeam micrometer

高解析度光學測微計

Micro-Epsilon 的光學測微計根據透射光原理工作(ThruBeam 千分尺)。透過發射器產生平行光幕,通過透鏡裝置傳輸到接收器。如果光路中有物體,光束就會中斷。由此產生的陰影被接收光的光學元件檢測到,並作為測量值輸出。大多數光學千分尺用於生產、機器監控和質量保證中的尺寸測量。直徑、間隙、高度和位置等參數的檢測精度都很高。

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產品特點

  1. 高精度和高測量速率
  2. 解析度從 0.1 微米起
  3. 測量範圍 0.02 毫米(局部陰影 300 微米起)
  4. 無磨損測量,使用壽命長
  5. 不同型號適用於不同應用領域
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Luigi Yang
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無磨損、耐用的設計確保測量可靠

所有 optoCONTROL 光學測微計在工作時都無需旋轉反射鏡,因此完全無磨損。平行光幕由光源中的特殊光學元件形成。接收光學元件(如濾光片和透鏡)中的高質量組件保證了測微計的高精度。這就是為什麽 optoCONTROL 測微計特別適用於要求高精度和高可靠性的領域。

廣泛的應用

Laser micrometers are primarily used as part of the manufacturing process and quality monitoring in the production line, measuring continuous material, as well as single parts. The compact models of the optoCONTROL family are suitable for applications in production lines, as well as for integration in machines and automated production systems. The high measuring rates ensure a high and continuous cycle rate in the production process.

 

雷射測微計主要用於生產線上的製造過程和品質監控,可測量連續材料和單個零件。optoCONTROL 系列的精巧型產品適用於生產線,也可整合到機器和自動化生產系統中。高測量速率確保了生產過程中的高連續循環率。

應用實例

應用