用於幾何和表面檢測的3D感測器
Micro-Epsilon 的新一代 3D 感測器在測量和評估物體表面時的高精度給人留下了深刻印象。Micro-Epsilon 的 surfaceCONTROL 和 reflectCONTROL 檢測系統分別適用於無光澤和光亮表面。3D snapshots可在短時間內記錄並提供詳細的三D點雲。
這些 3D 感測器可用於幾何物體檢測、位置確定、存在檢查以及平面度或平行度測量等。由於其高性能，這些感測器可用於線上應用、機器人和離線檢測。
高精度線上檢測
Micro-Epsilon 的 3D 系統可用於無光澤和光亮表面的各種測量和檢測任務。測量結果可以記錄和比較。這樣就可以得出重要結論，從而改進工藝。Micro-Epsilon 的所有 3D 感測器均可用於離線應用以及全自動操作和機器人上。
reflectCONTROL
reflectCONTROL 感測器用於對閃亮物體進行表面檢測，具有很高的 X 和 Z 解析度。
reflectCONTROL: 檢測高透光率與閃亮表面
thicknessGAUGE 3D
thicknessGAUGE 3D 感測器系統用於精確測量條狀、板狀和片狀材料的 2D/3D 厚度。