2D/3D 量測

surfaceCONTROL 3D 結構光感測器用於3D測量和表面檢測。感測器利用邊緣投影原理檢測漫反射表面並生成3D點雲。隨後對點雲進行評估，以辨別幾何形狀、極小缺陷和表面不連續性。Micro-Epsilon 可提供不同測量面積的感測器。這樣就可以檢測物體上最精細的結構以及大面積物體上的形狀偏差。功能強大的軟體可用於評估和參數設置。

reflectCONTROL 感測器為高反射和透明表面的缺陷檢測提供了創新的解決方案。這些感測器使用相位測量偏轉測量技術，可實現全表面測量。傳統的目視檢測需要耗費大量人力和工作時間，與此相比，reflectCONTROL 感測器可提供精確的測量結果，從而對表面品質進行詳細分析。強大的軟體套件可用於評估和參數設定，大幅提升表面檢測的效率和精確度。

Micro-Epsilon 的雷射掃描儀代表了 2D 與 3D 量測技術的頂尖性能。它們結合了極高精度與高速表現，在各個行業中實現可靠且可重複的量測結果。scanCONTROL 型號提供多種量測範圍，專為inline應用設計。無論是簡單的輪廓量測、機器人導引、表面檢查還是高精度的 3D 幾何檢測，這些雷射掃描儀都能為穩定的生產製程提供精確的量測數據。

新: scanCONTROL 8500 系列憑藉內建的 SMART 評估功能提供卓越性能。得益於高度開發的 4K 感光矩陣與最先進的綠光雷射 (GREEN LASER) 技術，該掃描儀以其非凡的準確度、高訊號穩定性以及同級產品中最佳的量測率令人矚目。

重新定義精度 —— Micro-Epsilon 雷射掃描儀

3DInspect 是一款操作簡易的軟體，適用於 Micro-Epsilon 的所有 3D 感測器。3DInspect 軟體可直接進行 3D 感測器的參數設置和測量數據記錄。功能強大的工具可進行點雲的對齊和過濾、可進行直觀檢測和選擇相關區域並組合各式程序。3D點雲可根據需要進行後處理，並將測量到的數據輸出到控制器。

Micro-Epsilon 的 3D 感測器配備了易於整合的 SDK（軟體開發工具包）。SDK 基於 GigE Vision 和 GenICam 行業標準，包括以下功能模塊：

• 網路配置和感測器連接
• 廣泛的感測器控制
• 測量圖像的傳輸控制
• 用戶自定義參數集管理
• C++ 範例程式和文檔

Access to the sensor via使用 GenICam 的客戶，無需 SDK 也可通過 GigE Vision 訪問感測器。

Industrial Performance Unit是一個功能強大的計算平台，用於對 Micro-Epsilon 3D 感測器進行高效調試。完全相容的控制器非常適合三維測量任務中的線上過程。採用 Valid3D 技術的直觀 3DInspect 軟體可實現簡單、快速的感測器參數設置，從而可立即開始測量。Industrial Performance Unit 直接處理三維數據，隨後通過 3DInspect 軟體進行評估。結果可通過整合的 PROFINET 、EtherCAT 和 EtherNet/IP 接口輸出。

3D Profile Unit 可在共同座標系中計算 scanCONTROL 30xx 感測器的多個獨立剖面。如此便可產生複合的 2D 剖面或複合的 3D 點雲。因此，偵測各種幾何形狀、擴展量測範圍以及進行厚度量測都成為可能。可透過整合的編碼器輸入，將感測器的位置精確地指定到測量對象的位置。
資料的評估和系統的參數設定可在 3DInspect 軟體中執行。3D Profile Unit 控制器具備與工業乙太網路連接的整合評估功能，可控制應用程式並將量測值輸出至 PLC。另外，3D Profile Unit 控制器也可透過 GigE Vision 整合至一般影像處理程式，並作為原始資料提供者。

Micro-Epsilon 的光學測微計根據透射光原理工作（ThruBeam 千分尺）。透過發射器產生平行光幕，通過透鏡裝置傳輸到接收器。如果光路中有物體，光束就會中斷。由此產生的陰影被接收光的光學元件檢測到，並作為測量值輸出。大多數光學千分尺用於生產、機器監控和質量保證中的尺寸測量。直徑、間隙、高度和位置等參數的檢測精度都很高。