用於檢測光亮表面的 3D 感測器
reflectCONTROL 感測器為高反射和透明表面的缺陷檢測提供了創新的解決方案。這些感測器使用相位測量偏轉測量技術，可實現全表面測量。傳統的目視檢測需要耗費大量人力和工作時間，與此相比，reflectCONTROL 感測器可提供精確的測量結果，從而對表面品質進行詳細分析。強大的軟體套件可用於評估和參數設定，大幅提升表面檢測的效率和精確度。
用於光亮表面 3D 量測的偏轉感測器： RCS 130-160 3D HLP
<強大的>產品特點:
- 量測面積 170 x 160 mm
- 只針對高反射平面的表面測量
- 可輸出 2D 基礎強度、振幅和曲率圖像
- 可輸出 3D 點雲圖, 用於高精度高度量測
RCS130-160 3D HLP 用於光亮物體的形狀量測。此感測器會顯示條紋圖案，由量測物體表面反射至感測器攝影機。此感測器可提供表面的 3D 影像，藉此可判斷元件的拓樸結構 (例如平面度、撓度、曲率)。RCS130 機型特別針對量測與檢驗任務進行最佳化，例如生產線中的量測與檢驗任務。此外，感測器具有 GigE Vision 介面，可提供 GenICam 相容的資料
光亮元件的表面測量: RCS 110-245 2D
<強大>特點:<強大>
- 量測範圍 110 x 245 mm
- 用於量測高反射、平坦的表面
- 輸出 2D 基礎強度、振幅和曲率圖像
reflectCONTROL RCS110-245 2D 配備整合式控制器，專為固定式量測或整合至機器而設計。此精巧型感測器可偵測光亮表面上的異常現象，經軟體處理後顯示為反射率與曲率影像。GigE Vision 可將表面影像傳輸至多種影像處理軟體套件，進行進一步分析
當然，RCS110-245 2D 的所有功能也包含在 reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP 中。因此，這兩種感測器都能為表面檢測提供強大的解決方案，並能無縫整合至現有系統中
Valid3D – 可靠的 3D 資料
通過 Micro-Epsilon 的 3D-SDK 進行軟體整合
reflectCONTROL 配備容易整合的 SDK (軟體開發套件)。SDK 以 GigE Vision 和 GenICam 業界標準為基礎，包括下列功能塊：
- 網路設定與感測器連接
- 全面的感測器設置
- 控制圖像傳輸
- 管理使用者自定義讀的參數設定
- C++ 範例程式與文件檔
如果您有 GenICam 用戶端，不使用 SDK 也可以透過 GigE Vision 存取感測器
通訊介面卡 & 訊號轉換單元
應用
