高反光表面的高精度檢測與量測

以定義明確的條紋圖案對量測物體進行非接觸式照光。高反光表面將這些圖案反射至兩部攝影機中，即使是條紋最微小的變化與變形也能被捕捉檢測。

感測器能從擷取的影像序列生成高解析度 2D 相位影像，從而可靠地檢測與評估表面瑕疵。使用具備 3D 功能的 reflectCONTROL 機型時，相位資訊還可用於計算三維點雲（即表面地形）。

根據感測器機型的不同，量測資料可進一步用於自動化瑕疵檢測、表面檢測與 3D 形貌量測。

Micro-Epsilon 的偏折法感測器用於對光澤與高反光表面進行高精度檢測。感測器能以高解析度及非接觸方式，捕捉最微小的形貌偏差、波浪度與局部表面瑕疵。典型應用領域包含半導體工業、光學元件、玻璃表面、顯示器以及塗裝或拋光零件等。

這些感測器既可用於單一元件的品質控制，也能整合至生產線中進行自動化線上檢測。這有助於在早期階段即時發現瑕疵，減少報廢與重工，並確保持續穩定的高品質產品。