用於 2D 表面檢測與 3D 幾何形貌量測的感測器
reflectCONTROL RCS110-245 2D 及 RCS130-160 3D HLP 感測器可對高反光表面進行精確檢測與量測。RCS110-245 2D 專為可靠偵測與分析表面偏差而設計，並提供高解析度的基礎強度、振幅及曲率影像。RCS130-160 3D HLP 則額外提供高解析度 3D 點雲數據，從而能夠精確測表面形貌與幾何特性（如平坦度、偏折及曲率）。
兩款感測器皆適用於自動化檢測任務，並能輕鬆整合至機台、設備系統及現有影像處理系統中。因此，它們為反光元件的工業品質管理提供了強大的解決方案。
RCS130-160 3D HLP - 高反光表面的 3D 量測
reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP 專為反光零件的形貌擷取而設計。該感測器會顯示條紋圖樣，並經由待測物表面鏡射至感測器的鏡頭。感測器可提供表面的 3D 影像，從而測定元件的拓撲結構（例如平坦度、偏折、曲率）。RCS130 型號特別針對生產線等量測與檢測任務進行了優化設計。此外，該感測器具備 GigE Vision 介面，可提供符合 GenICam 標準的資料。
RCS110-245 2D - 反光元件的快速表面檢測
內建控制器的 reflectCONTROL RCS110-245 2D 專為靜態量測或機台設備整合所設計。這款精巧型感測器可偵測反光表面上的異常，並透過軟體處理與顯示為反射率與曲率影像。GigE Vision 可將表面影像傳輸至各種影像處理軟體套件，以進行進一步的分析。
當然，reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP 亦涵蓋了 RCS110-245 2D 的所有功能。因此，這兩款感測器皆為表面檢測提供了強大的解決方案，並能輕鬆整合至現有系統中。
應用領域
應用
